1、平衡條件

(1) 明確(què)轉子爲剛(gāng)性轉子

(2) 明確(què)轉子存有不平衡故障不平衡屬於(yú)低頻故障， 當5Hz～1KHz的通頻振動（偏移峰峰值或速度有效值）較标準值有明顯擴大時， 表明機器有低頻類故障在發展。 欲進一步明確(què)其是不是爲不平衡故障，需開展頻譜分析。不平衡故障表現在轉子徑向轉頻上的振幅擴大，而在軸向和别的倍頻分量上振幅擴大相對不明顯。 若軸向或别的倍頻分量上的振幅與徑向轉頻處的振幅一起明顯擴大， 乃至擴大速率超出徑向轉頻處的振動幅值的擴大速率，則應考慮彎曲、不對中或松動等别的故障。

2、平衡打算

(1) 明確(què)轉子的平衡種類和平衡方式依據轉子直徑與其長度的關系明確(què)其需做單面平衡或雙面平衡， 並(bìng)決定應用試重法或影響系數法對其進行動平衡。 若應用影響系數法須事先從上位 PC機中下載該轉子的影響系數，或記錄下該轉子的影響系數，以便需用時手動輸入。

(2) 選擇測點位置根據轉子的平衡類型在該轉子設備(bèi)上選擇相應的測量平面和測點位置， 以便安置振動傳感器。 測量平面應選在轉子的軸承座或附近剛性較高、 較爲平坦的金屬表面上。 測點應布置在測量平面内徑向振動量最大位置或規定位置上，一般選擇轉子兩邊(biān)軸承座爲測量平面， 測點以水平方向爲好。 單面平衡隻需安置一個測點，雙面平衡需安置兩個測點。測點位置需做上标記，以便以後測量。

(3) 挑選校正面和加試重位置若應用試重法， 充分考慮轉子的構造特性， 挑選轉子上便捷安裝試探質量和校正質量的平面作爲校正面。 以相同的标準在校正面上挑選以轉軸爲圓心、 Rc爲半徑的校正圓。 在校正圓上搞好試重位置标識。 校正半徑應盡可能大， 以提升角度定位精度，減少試探質量。 單(dān)面平衡隻需在1個平面内進行校正
， 挑選1個試重位置即可。雙面平衡需要2個平面上進行校正
，應以兩個校正面中間的間距盡大，2個試重位置角度相距 0o。若應用影響系數法， 則規定仍選用獲得該影響系數時的測(cè)量标準：同樣的負載、轉速，同樣的振動和轉速測(cè)量位置，同樣的反光條粘貼位置，且能辨認出獲得該系數時的試重位置。故所述第（ 2）、（3）步和以下第（6）步均可省略。

(4) 粘貼反光條在轉軸或轉子表層上， 沿與轉子軸線平行的方位粘貼反光條。 需確(què)保反光條附近有必須的空間可安裝用於(yú)固定轉速傳感器的工具， 且反光條與轉軸柱面的反光性能有足夠的反差。

(5) 確(què)定轉速傳(chuán)感器轉速傳(chuán)感器需安裝在磁性表座上随後将表座吸咐在一剛性金屬表面
， 使傳(chuán)感器傳(chuán)出的激光束切割反光條根據的位置上。 轉速傳(chuán)感器安裝平穩是否立即影響相位精密度。

(6) 挑選試探質量試探質量用於(yú)臨時更改一下轉子的質量分布， 便於(yú)找到試探質量與轉子振動之間的關系。試探質量過大，設備有将會達沒到設定轉速；試探質量過小，則振動變化不明顯， 使測量結果不精確(què)。 留意積累經驗盡可能於(yú)恰當挑選試探質量。 單面平衡用一塊試探質量即可。 雙面平衡可應用二塊不一樣的試探質量， 也可應用同一塊試探質量。試探質量的挑選可參考以下公式：

 

式中： Mt------ 試(shì)探質(zhì)量， Kg 

       M------- 轉(zhuǎn)子質(zhì)量， Kg

       n------- 平衡轉(zhuǎn)速， r/min 

       D 0------- 原始振幅， μm 

       r-------- 轉(zhuǎn)子半徑(jìng)， m 

3、單(dān)面試重法平衡流程弄完平衡準備(bèi)工作後，單(dān)面試重法平衡流程如下：

(1) 将振動傳感器吸咐在選定的測(cè)點上， 轉速傳感器確(què)定在正對反光條根據的位置上。

(2) 将振動傳(chuán)感器和轉速傳(chuán)感器連接到動平衡儀上，留意理順導(dǎo)線，避免被絞進轉子；開啓動平衡儀。

(3) 啓動設備(bèi)至設定轉速，平穩後測定並(bìng)儲存原始振動烈度和相位。

(4) 停止設備(bèi)，把選中的試探質量安置在選定的試重部位上，並(bìng)在儀器中輸入所加試重的質量。

(5) 重啓設備(bèi)，平穩後測量並(bìng)儲存加試重後的振動烈度和相位。

(6) 用儀器開展平衡結(jié)算獲(huò)得需要安置的校正質量大小和位置角度。

(7) 停止設備(bèi)轉動，去除試探質量。将解計算的校正質量安置在校正圓上校正角度選定的位置。 若因爲轉子構造問題， 此位置不能安置校正質量， 則可執行現場動平衡儀的矢量分解功能。 将此校正質量轉化成2個分量， 安置到2個便捷安置的部位上。 校正質量的安置角度由試探質量所在位置起沿轉子轉動方向度量。若不願去出試探質量，還可以将其做爲1個矢量分量（角度爲零度），計算另外矢量分量， 使兩者合成結果等效於(yú)校正質量， 随後按計算的分量的大小和)3000n(4 ~ 8) r (2M D0M t角度安置在轉子上
。

(8) 再一次啓動設備(bèi)，穩定後測定並(bìng)儲存剩下振動烈度，将其與原始振動烈度比較，檢查平衡效果怎樣及是不是符合規定。 若剩下振動烈度仍過大， 則再次進行平衡解算，算出第二次平衡要用的校正質量尺寸和位置角度。

(9) 停止設備(bèi)轉動(dòng)，将第二次平衡解計算的校正質量安置到校正面上。

(10) 再一次啓動設備(bèi)，平穩後測定並(bìng)儲存兩次平衡後的剩下振動烈度。

(11) 關掉設備(bèi)，将此次儲(chǔ)存的平衡數據發送至上位機中
。

4、單面影響系數法平衡

做好平衡準備(bèi)工作後，單(dān)面影響系數法平衡流程如下：

(1) 檢查原轉速反光條是不是仍存有。若找不到，且原位置沒法分辨，則該(gāi)影響系數失效，需改成試重法。若反光條反光性能降低，必須拆換反光條
，且要確(què)保與原位置相同。

 (2) 将振動傳感器吸附在舊的測(cè)量點标識上， 轉速傳感器確(què)定在正對反光條根據的位置上。

 (3) 将振動傳(chuán)感器和轉速傳(chuán)感器連接到動平衡儀上， 注意理順導線， 避免被絞進轉子；啓用現場(chǎng)動平衡儀。

 (4) 啓動設備(bèi)至設置轉速，平穩後測量並(bìng)儲存原始振動烈度和相位。

 (5) 手動(dòng)輸入影響系數或應用下載的影響系數開展平衡解算
， 獲(huò)得要用的校正質量尺寸和位置角度。

 (6) 停止設備(bèi)旋轉，将解計算的校正質量安置在校正圓上校正角度特定的位置。若因爲轉子構造問題， 此位置不能安置校正質量， 則可執行現場(chǎng)動平衡儀的矢量分解功能。将此校正質量轉化成兩個分量，安置到2個便捷安置的部位上。校正質量的安置角度由試探質量所在位置起沿轉子旋轉方向度量。

 (7) 再一次啓動設備(bèi)， 平穩後測定並(bìng)儲存剩下振動烈度， 将其與原始振動烈度比較，檢查平衡作用怎樣及是不是符合規定。 若剩下振動烈度仍過大， 則再次開展平衡解算，算出第二次平衡要用的校正質量尺寸和位置角度。

 (8) 停止設備(bèi)旋轉，将兩次平衡解計(jì)算的校正質量安置到校正面上。

 (9) 再一次啓動設備(bèi)，平穩後測量並(bìng)儲存兩次平衡後的剩餘振動烈度
。

 (10) 關掉設備(bèi)，将此次儲(chǔ)存的平衡數據發送至上位機中。

5、雙面試重法平衡流程

  雙面試重法平衡流程與單面試重法平衡相近， 可是務必在2個平面内測(cè)量振動，並(bìng)在2個平面上開展校正。雙面試重法平衡流程如下（見圖 2-1）：

(1) 将振動傳(chuán)感器吸咐在選定的測(cè)點 A平面上。

(2) 轉速傳(chuán)感器確(què)定在正對反光條通過的部位上。

(3) 将振動傳(chuán)感器和轉速傳(chuán)感器連接到動平衡儀上，注意理順導線，避免被絞進轉子；開啓現場(chǎng)動平衡儀。

(4) 啓動設備(bèi)至設置轉速，平穩後測量並(bìng)儲存測量點 A平面處的原始振動烈度和相位。

(5) 将振動傳感器移到選中的測(cè)點 B平面處，平穩後測(cè)定並(bìng)儲存測(cè)點 B平面處

 

 

圖 2-1 雙面轉子平衡

 

的原始振動烈度和相位。

(6) 停止設備(bèi)旋轉， 将選中的試探質量 1安置在選定的校正平面 1内的試重位置标識處(chù)。在儀器中輸入所加試探質量 1的質量值。

(7) 将振動傳感器移到測量點 A平面處，重啓設備(bèi)至設置轉速，平穩後測定並(bìng)儲存加試探質量 1後測點 A平面處的振動烈度和相位。

(8) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲加試探質量 1後測(cè)點B平面處的振動烈度和相位。

(9) 停止設備(bèi)旋轉， 去除校正平面 1内的試探質量 1。将選中的試探質量 2（能夠依然應用試探質量 1）安置在選定的校正平面 2内的試重位置标識處(chù)。 在儀器中輸入所加試探質量 2的質量值。

(10) 将振動傳感器移到測點 A平面處，再一次啓動設備(bèi)至設置轉速
，平穩後測量並(bìng)儲存加試探質量 2後測點 A平面處的振動烈度和相位

(11) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處
，平穩後測(cè)量並(bìng)儲存加試探質量 2後測(cè)點B平面處的振動烈度和相位。

(12) 用儀器開展平衡結(jié)算獲(huò)得需要安置的校正質量 1的尺寸、角度和校正質量2的尺寸、角度。

(13) 停止設備(bèi)旋轉，去除試探質量 2。将解計算的校正質量 1安置在校正面 1上
，校正質量 2安置在校正面 2上，每個(gè)校正質量的安置半徑與其校正面上的試探

質量安置半徑相同， 安置角度由其校正面上的試探質量所在位置起沿轉子旋轉方向度量。在任意校正面上，若因爲轉子構造問題，此位置不能安置校正質量，則可執行現場(chǎng)動(dòng)平衡儀的矢量分解功能。将該校正面上的校正質量轉化成2個分量，安置到2個便捷安置的部位上。

(14) 将振動傳感器移到測點 A平面處，重新啓動設備(bèi)，平穩後測量並(bìng)儲存測點A平面處的剩下振動烈度和相位。

(15) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處，平穩後測(cè)量並(bìng)儲存測(cè)點 B平面處的剩下振動烈度和相位。

(16) 将測(cè)點 A、B平面處(chù)的剩下振動烈度與原始振動烈度比較，檢查平衡作用怎樣及是不是符合規定。 若剩下振動烈度仍過大， 則繼續開展平衡解算， 算出兩次平衡要用的校正質量尺寸和位置角度。

(17) 停止設備(bèi)轉動(dòng)，将兩次平衡解計算的2個校正質量各自安置到2個校正面上。

(18) 将振動傳感器移到測量點 A平面處，重新啓動設備(bèi)，平穩後測量並(bìng)儲存測點A平面處兩次平衡後的剩餘振動烈度和相位。

(19) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 B平面處第二次平衡後的剩餘振動烈度和相位。

(20) 關閉(bì)機器，将本次存儲(chǔ)的平衡數據發送至上位機中。

6、雙(shuāng)面影響系數(shù)法平衡步驟雙(shuāng)面影響系數(shù)法平衡步驟如下：

(1) 檢查原轉速反光條是否仍存在。若不存在，且原位置無法辨認，則該(gāi)影響系數失效，需改用試重法。若反光條反光性能下降，需要更換(huàn)反光條，且要保證與原位置重合。

(2) 将振動傳感器吸附在舊的測(cè)點 A平面處，轉速傳感器固定在對著(zhe)反光條通過的位置上。

(3) 将振動傳(chuán)感器和轉速傳(chuán)感器連接到動平衡儀上，注意理順導(dǎo)線，防止被絞進轉子；開啓動平衡儀。

(4) 啓動機器至設定轉速，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 A平面處的初始振動烈度和相位。

(5) 将振動傳感器移到舊的測(cè)點 B平面處，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 B平面處的振動烈度和相位。

(6) 手動(dòng)輸入影響系數或使用下載的影響系數進(jìn)行平衡解算， 得出校正質量1的大小、角度和校正質量 2的大小、角度。

(7) 停止機器轉動，将平衡解算出的校正質量 1安置在校正面 1上，校正質量2安置在校正面 2上，每一校正質量的安置半徑與其校正面上的試探質量安置半徑相同，安置角度由其校正面上的試探質量所在位置起沿轉子轉動方向度量。 在任一校正面上， 若由於(yú)轉子結構問題， 此位置不可安置校正質量， 則可執行現場(chǎng)動平衡儀的矢量分解功能。 将該校正面上的校正質量分解成兩個分量， 安置到兩個方便安置的位置上。

(8) 将振動傳感器移到測(cè)點 A平面處，重新啓動機器至設定轉速，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 A平面處的剩餘振動烈度和相位。

(9) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 B平面處的剩餘振動烈度和相位。

(10) 将測(cè)點 A、B平面處(chù)的剩餘振動烈度與初始振動烈度比較，檢查平衡效果如何及是否符合要求。 若剩餘振動烈度仍較大， 則繼續進行平衡解算， 得出第二次平衡需用的校正質量大小和位置角度。

(11) 停止機器轉動(dòng)，将第二次平衡解算出的兩個(gè)校正質量分别安置到兩個(gè)校正面上。

(12) 将振動傳感器移到測(cè)點 A平面處，重新啓動機器，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點A平面處第二次平衡後的剩餘振動烈度和相位。

(13) 将振動傳感器移到測(cè)點 B平面處，穩定後測(cè)量並(bìng)存儲測(cè)點 B平面處第二次平衡後的剩餘振動烈度和相位。

(14) 關閉(bì)機器，将本次存儲(chǔ)的平衡數據發送至上位機中。